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TH2638是用于陶瓷電容生產(chǎn)測(cè)試的一款電容表。TH2638可用于在頻率100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,40kHz, 100kHz,1MHz和測(cè)試信號(hào)電平(0.1V ~1V)對(duì)陶瓷電容作出評(píng)估。
TH2638可提供在所有頻率下基本精度為±0.07%(C)、±0.0005(D)的C-D測(cè)量, 且在每個(gè)范圍內(nèi)都具有七位數(shù)的分辨率(損耗因數(shù)分辨率為1 ppm)。
利用其內(nèi)置的比較器,TH2638可輸出比較/判定結(jié)果,用于將元件分類為最多10個(gè)分 檔(BIN)。此外,通過(guò)使用處理器接口和掃描儀接口選件,TH2638很容易與元器件處理器、 掃描儀和系統(tǒng)控制器結(jié)合使用,以使元器件測(cè)試、分類和質(zhì)量控制數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化。
GPIB/LAN/USB接口是TH2638上的標(biāo)準(zhǔn)接口(TH2638A/B/C不包含GPIB和Scanner接口),并支持自動(dòng)測(cè)試。
應(yīng)用
■ 電解電容器高速高精度測(cè)試
■ 陶瓷電容器高速高精度測(cè)試
■ 薄膜電容器高速高精度測(cè)試
■ 各種電容器生產(chǎn)線高速測(cè)試
■ 高速自動(dòng)化生產(chǎn)線集成測(cè)試
■ 半導(dǎo)體、器件、材料分布電容測(cè)試
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